服務&支持Services/Support
瑞奇戈德是專門從事X射線智能探傷系統的研發、生產和銷售的高新技術企業，為客戶個性化定制和開發各種工業X射線智能成像探傷裝備，目前產品涵蓋了航空、航天、鑄造、汽車、高鐵、核電、壓力容器等多個工業射線無損探傷領域；
公司自成立以來，始終堅持“誠信立業”的經營理念；為客戶提供滿意的工業射線智能探傷裝備作為我們的初心從未更改；由此我們聘請了多個高校的教授和相關行業專家作為公司的技術顧問，為客戶提供精細的定制方案。
公司目前擁有多套實驗裝備，針對無人值守的X射線智能檢測裝備（ADR），可為客戶提供售前樣件測試，讓客戶再購買設備前可親自體驗先進的ADR技術、了解設備識別缺陷的能力。
瑞奇戈德專注致力于X射線智能探傷裝備的研制，不遺余力的推動射線數字影像產業的發展，致力成為客戶滿意、社會認同和鮮明個性的科技企業。讓我們以優質的產品、精湛的技術和有效的服務，來滿足市場對智能設備不同的需要。
2021/12/30
壞像素列表文件
（一）|壞像素定義
通常將以下7種狀態的像素定義為壞像素。
（a）死像素
指無響應的像素和響應不隨射線劑量變化的像素。
（b）過響應像素
像素的灰度值大于其所在的21x21鄰域中灰度中值1.3倍的像素。
（c）欠響應像素
像素灰度值小于21x21鄰域中灰度中值0.6倍的像素。
（d）噪點像素
在30至100幀序列的無射線照射圖像中，像素灰度值的標準偏差超過整個DDA標準偏差中值6倍的像素。
（e）不均勻像素
像素灰度值與9x9鄰域的灰度平均值偏差超過±1%的像素。該測試在本底和增益修正圖像上完成，要求平均灰度值達到或超過DDA線性范圍的75%時進行測試。
（f）殘影/延遲像素
X射線關閉后，像素灰度值超過了首個采集圖像中9x9鄰近內像素灰度中值2倍的像素。
（g）鄰近壞點像素
像素的全部8個鄰近像素均為壞點，也將視為壞點像素。
2021/12/14
2010年，瑞奇戈德針對鍋爐行業首次推出“管屏DR檢測技術”，經過10多年的發展，管屏DR檢測設備已經遍地開花，技術非常成熟。支持各種產品定制！！
2021/12/30
探測器增益
探測器在使用過程中，面臨的要求是多種多樣的。有的使用場合要求檢測圖像獲得高的信噪比，而另一些場合則需要低劑量。為此，部分探測器設計了可編程增益放大器來調節探測器的增益（Gain）。可編程增益放大器（PGA：Programmable Gain Amplifier)是一種通用性的放大器，其放大倍數可以根據需要用程序進行控制。采用這種放大器，可通過程序調節放大倍數，使A/D轉換器滿量程信號達到均一化，所謂量程自動轉換就是根據需要對所處理的信號利用可編程增益放大器進行倍數的自動調節，以滿足后續電路和系統的要求。
增益改變對探測器的特性影響可以用以下示意圖來描述。
探測器增益調節，實質上改變了探測器的敏感性。增益提高，信號放大倍數增加，相同曝光量時探測器灰度值增加。也就是說探測器在兩種不同的增益條件下，接受相同的曝光量而圖像的灰度值不同。增益越大、敏感度提高、灰度值越大，曝光速度提高；反之亦然。所以，探測器增益調節，相當于改變了探測器的曝光速度（劑量的倒數）。一些探測器使用“pF”來表示增益，在這種情況下“pF”值越小，增益越大，曝光速度越快。需要曝光劑量小而圖像質量要求不高時（如：醫療應用）可以提高探測器增益；對曝光量沒有明確限制而要求高圖像質量時應降低探測器增益。
2021/12/14
在無損檢測和醫療診斷領域，探測器陣列由于成像區域大、圖像幾何畸變小、轉換效率高、信噪比優良等特性，近年來得到了快速的發展。半導體陣列成像技術可以方便的實現數字化，所以這種成像技術經常被稱之為射線數字成像技術，相應的射線探測器稱為數字探測器陣列，簡寫為DDA。
一、結構特點
目前，大幅面、陣列式圖像傳感器主要是CMOS圖像傳感器和a-si：H TFT圖像傳感器。從CCD圖像傳感器的工作原理和制造成本考慮，不宜用作DDA的圖像傳感器.
1.圖像傳感器
CMOS圖像傳感器由于受晶圓直徑的限制目前只能做到100mm×100mm的中等大小尺寸，制作更大尺寸的DDA時需要使用傳感器拼接技術。兩塊傳感器拼接，在連接區域不可避免的會存在像素缺失（至少缺1列或1行）；四塊傳感器拼接時，在中心區域會形成超過4個以上像素的“盲區”。因像素缺失和盲區的存在，會造成圖像的紋理變形和區域信息丟失，如下圖所示:
a）列丟失
b）行丟失探測器拼接引起的像素丟失
從理論上講，這些丟失的像素可以視為壞像素，可以使用壞像素校正的方法進行彌補，但對細節檢出的影響總是不能讓人放心。
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